欢迎光临科通芯城!

一种基于FPGA的高速误码测试仪的设计

一种基于FPGA的高速误码测试仪的设计

方案编号:
8IF0A1
标签:
xilinx,FPGA,数控系统
类别:
工业控制
方案描述:
误码测试仪是检测通信系统可靠性的重要设备。传统的误码测试仪,基于CPLDCPU协同工作,不仅结构复杂,价格昂贵,而且不方便携带。基于FPGA的告诉误码测试仪,采用FPGA来完成控制和测试模块的一体化设计,提高了系统功能扩展性和系统的集成度,使得各个功能模块在不改动硬件电路的情况下可以相应变化。在发送端发送M序列作为测试数据,其测试速度最高可达到155MB/S。由于将其物理层上的各种协议层得功能集中到FPGA内部实现,减少了硬件和软件的复杂度,并且缩短了系统的开发周期,具有可生气的特点。

方案设计图

方案关键器件表

类型
型号
厂商
说明
FPGA
XC6VCX75T-1FFG784 
Xilinx
误码测试仪应用
top 科通云助手